[发明专利]一种低暗电流铟镓砷焦平面探测器的制备方法在审

专利信息
申请号: 202211482555.5 申请日: 2022-11-24
公开(公告)号: CN116247124A 公开(公告)日: 2023-06-09
发明(设计)人: 龚晓霞;宋欣波;朱琴;方莉媛;陆江伟;赵荣;陈冬琼;杨玲;杨文运;黄晖 申请(专利权)人: 昆明物理研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/102;H01L31/0216;H01L31/0224;H01L31/0352;H01L31/0304
代理公司: 北京艾纬铂知识产权代理有限公司 16101 代理人: 张维佳
地址: 650223 *** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明涉及一种低暗电流铟镓砷焦平面探测器的制备方法,属于InGaAs探测器技术领域。在InP衬底上按顺序依次生长InP缓冲层、InGaAs腐蚀停层、N型InP接触层、InGaAs吸收层、N型InP帽层以及InGaAs接触层;然后在InGaAs接触层做P型接触区光刻,再做扩散区光刻并进行Zn扩散且扩散至InGaAs吸收层,则在含有Zn掺杂的区域形成P型掺杂区;再做N型接触区光刻,在P型掺杂区四周形成N型接触区;再做欧姆接触区光刻以形成P型与N型欧姆接触区;再进行电极图形光刻以形成P区与N区金属电极区;最后进行分割,并分别与读出电路连接,则形成多个低暗电流铟镓砷焦平面探测器。
搜索关键词: 一种 电流 铟镓砷焦 平面 探测器 制备 方法
【主权项】:
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