[发明专利]SOC芯片内建测试电路、SOC芯片及测试方法在审
| 申请号： | 202211495792.5 | 申请日： | 2022-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN115542132A | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 吴思欣;郭敬 | 申请（专利权）人： | 深圳市鹏芯数据技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/316 |
| 代理公司： | 深圳市科冠知识产权代理有限公司 44355 | 代理人： | 王海骏 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及SOC芯片内建测试电路，包括命令解析模块、二分法算法模块以及电压和频率比较器模块；通过在SOC芯片内部内置了一个EST自动校准电路，即可在SOC芯片内部完成电压和频率的二分法校准，与最好的现有技术相比，测量过程在SOC芯片内部完成，有如下的优点：1.减少ATE测试机台和芯片交互次数；2.减少外部ATE机台连线噪声干扰，提高测量精度；3.减少待测量的测量时间。 | ||
| 搜索关键词： | soc 芯片 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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