[发明专利]适用于LCD装配流程的多次元评估方法及系统

摘要

本发明涉及LCD装配工艺技术领域，具体而言，涉及适用于LCD装配流程的多次元评估方法及系统，该方法的步骤包括：以第一次元指数作为标的，依次选取关联器具及对应的装配模型作为输出，在选定不同仿真环境表征为LCD的工况执行器具装配评测，并按照第二次元指数作为标的对器具评测结果进行综合排序的同时，依据预设有光学算法的采集模组对LCD进行透镜成像评测，并按照第三次元指数作为标的对透镜评测结果进行排序，结合第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数，并以效率优先作为装配序列进行融合计算，以最优选计算结果作为决策并输出，完成LCD装配流程的多次元评估。