[发明专利]键合头、键合装置和键合方法在审

专利信息
申请号: 202211506940.9 申请日: 2022-11-28
公开(公告)号: CN116072560A 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 龙俊舟;陶超;王力 申请(专利权)人: 武汉新芯集成电路制造有限公司
主分类号: H01L21/603 分类号: H01L21/603;H01L21/683
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 黎坚怡
地址: 430205 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请提供一种键合头、键合装置键合方法。键合头包括键合块,键合块的底面包括第一区域和第二区域,第一区域包括键合块的底面的中心区域,第二区域环绕第一区域,第一区域中设置有第一压力施加装置的至少部分,第二区域中设置有吸附第一键合对象的第二压力施加装置的至少部分。在进行贴合时,吸附在键合块的底面上的第一键合对象下表面的拱起的中间区域先于第一键合对象下表面的边缘区域贴合第二键合对象的上表面,且第一压力施加装置从第一工作状态切换至第二工作状态,以使第一键合对象下表面的拱起的中间区域逐渐恢复形变,第一键合对象的下表面和第二键合对象的上表面依次贴合,从而将第一键合对象和所述第二键合对象键合在一起。
搜索关键词: 键合头 装置 方法
【主权项】:
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