[发明专利]模组测试系统、测试方法、电子设备和计算机存储介质在审
| 申请号： | 202211517831.7 | 申请日： | 2022-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN115858261A | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 张保威 | 申请（专利权）人： | 上海移远通信技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 201601 上海市松江*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请实施例涉及模组测试技术领域，公开了一种模组测试系统、测试方法、电子设备和计算机存储介质。上述模组的测试系统包括：上位机，测试模组和被测模组，所述被测模组包括PCIe模组，所述测试模组通过所述上位机的外部接口与所述上位机连接，所述测试模组还与所述被测模组连接；所述上位机用于向所述测试模组发送测试指令；所述测试模组用于根据所述上位机发送的所述测试指令，控制所述被测模组开始运行，并获取所述被测模组的运行数据；所述测试模组还用于将所述被测模组的运行数据发送至所述上位机，以供所述上位机根据所述运行数据对所述被测模组进行测试。本申请实施例的模组的测试系统，操作简单，且可以提升PCIe模组的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 模组 测试 系统 方法 电子设备 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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