[发明专利]检测操作模式的弱点的存储器装置及其操作方法在审
申请号: | 202211519323.2 | 申请日: | 2022-11-30 |
公开(公告)号: | CN116343860A | 公开(公告)日: | 2023-06-27 |
发明(设计)人: | 柳廷旻 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11C11/4078 | 分类号: | G11C11/4078;G11C11/408;G11C11/406;G11C29/02 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 赵南;李竞飞 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供了一种用于检测操作模式的弱点的存储器装置及其操作方法。该方法包括:在包括N个条目的寄存器中存储关于多条字线中的N条字线的地址信息和激活计数信息;基于与N条字线不同的第一字线的激活,在N个条目中的从其驱逐了信息的条目中存储关于第一字线的地址信息和激活计数信息;以及基于在第一周期中对寄存器执行驱逐的次数生成第一弱点信息。 | ||
搜索关键词: | 检测 操作 模式 弱点 存储器 装置 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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