[发明专利]存储颗粒开卡工具调试方法、设备和可读存储介质在审
| 申请号： | 202211580433.X | 申请日： | 2022-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN116185747A | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 林寅;吴大畏;李晓强 | 申请（专利权）人： | 深圳市硅格半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/263 | 分类号： | G06F11/263;G06F11/22;G06F11/36;G06F8/61;G11C29/08 |
| 代理公司： | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 | 代理人： | 赵爱蓉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种存储颗粒开卡工具调试方法、存储颗粒开卡工具调试设备和计算机可读存储介质，该方法包括：在虚拟主机接收到开卡工具的调试指令时，确定所述调试指令对应的NAND参数；基于所述NAND参数生成虚拟存储设备，并确定错误存储点位以及对应的错误类型；根据所述错误类型设置所述错误存储点位的待设置参数，并按照所述待设置参数更新所述虚拟存储设备；控制更新后的所述虚拟存储设备执行所述调试指令，并输出所述调试指令的执行结果。解决了相关技术中抓取到的故障日志数量不足，影响开卡工具的调试效果的技术问题，实现了覆盖尽可能多的业务场景用于调试量产的逻辑流程及异常处理的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 颗粒 工具 调试 方法 设备 可读 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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