[发明专利]缺陷检测参数的确定方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号： | 202211585253.0 | 申请日： | 2022-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN115937147B | 公开（公告）日： | 2023-09-26 |
| 发明（设计）人： | 魏佳琦;王潇;龚永佳 | 申请（专利权）人： | 北京小米移动软件有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/194;G06V10/74;G06V10/88;G06V10/82 |
| 代理公司： | 北京法胜知识产权代理有限公司 11922 | 代理人： | 黄海艳 |
| 地址： | 100085 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开关于一种缺陷检测参数的确定方法、装置、设备及存储介质，涉及缺陷检测技术领域。该方法包括：获取待检测设备的每种缺陷类型对应的多个缺陷图像，并获取每个缺陷图像对应的掩膜图像；将每个缺陷图像分别与对应的掩膜图像进行融合，以生成多个融合图像；获取每个融合图像与参考图像之间的比对结果，参考图像为预先确定的缺陷图像的评价标准图像；根据各个比对结果，确定每种缺陷类型对应的目标缺陷图像；将每个目标缺陷图像对应的光学检测参数，确定为待检测设备对应的候选缺陷检测参数。可以大幅度降低时间成本，由于在对成像质量评价的过程中关注到了缺陷图像的掩膜，使目标缺陷图像的成像更加满足调试和检测需求，更符合工业生产实际情况。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 参数 确定 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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