[发明专利]正比计数管的峰漂校正系统、方法、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202211585791.X 申请日: 2022-12-09
公开(公告)号: CN115793032A 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 王环 申请(专利权)人: 苏州兀象科学仪器有限公司
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00;G01T1/18;G01T1/36;G06F17/15
代理公司: 南京常青藤知识产权代理有限公司 32286 代理人: 李文龙
地址: 215300 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明属于正比计数管校正技术领域,具体涉及一种正比计数管的峰漂校正系统、方法、设备及存储介质,包括谱图卷积计算单元以及与谱图卷积计算单元通讯连接的卷积校正单元;其中,所述谱图卷积计算单元用于计算谱图卷积和;所述卷积校正单元用于对谱图卷积和校正后计算得出校正因子,并基于校正因子对谱图校正。本申请无需调整激发源的光强度和改变放大倍数,通过对原谱图卷积进行计算,然后通过对谱图卷积和先进行丢弃时间校正,再进行信号增益校正,计算得出校正因子,基于校正因子将原谱图的通道进行平移,从而完成漂移校正。
搜索关键词: 正比 计数 校正 系统 方法 设备 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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