[发明专利]一种利用XRD快速检测偏高岭土活性的方法

摘要

本发明公开了一种利用XRD快速检测偏高岭土活性的方法，包括如下步骤：将偏高岭土样品放入X射线衍射仪中，进行XRD慢扫；将XRD衍射仪测得的数据导入XRD分析软件，寻峰、扣背底，获得寻峰数据；根据所得寻峰数据，计算衍射峰高与相应半峰宽的比值R；对R值为1000以下的所有衍射峰的面积进行求和计算，得∑S衍射峰；最后采用上述相同检测和分析条件，计算不同偏高岭土粉末的∑S衍射峰，根据∑S衍射峰的数值高低，评价不同偏高岭土粉末的活性高低情况。本发明首次提出一种利用XRD快速检测和评价偏高岭土活性的方法，该方法简便、高效，可为偏高岭土活性的高效检测提供一条新思路。