[发明专利]一种TDICCD传感器图像的实验室绝对辐射系数解算方法

摘要

本发明提出一种TDICCD传感器图像的实验室绝对辐射系数解算方法，通过分析传感器光电信号处理过程，获取成像DN值和入瞳辐亮度、增益、行转移时间、积分基数的定量关系公式，并基于拟合的方法得到定量关系公式中的常量，最终可以求解出任意行转移时间、积分级数、增益的实验室绝对辐射系数。本发明所述方法能够基于少量成像参数组合拍摄的数据来计算得到任意成像参数组合下的实验室绝对定标辐射系数。相比于传统计算方法，大大减少了地面段辐射实验过程中对成像组合的依赖，可以有效减少辐射实验的操作成本和数据存储成本。