[发明专利]无源硅光芯片偏振相关损耗测试方法及测试系统

摘要

本发明公开一种无源硅光芯片偏振相关损耗测试方法及测试系统，利用偏振分析仪设置输入至待测芯片的光的偏振态，并监测记录四种偏振态下的待测芯片的输入与输出光功率值；基于记录的四组光功率值，计算出待测芯片插损最大和最小时所对应的光偏振态的斯托克斯矢量，并将其回设给偏振分析仪。无需遍历偏振态，只需测试四组固定偏振态以及回设的两组偏振态下的光芯片插损即可，在提高测试效率的同时，由于光芯片的最大与最小插损是回设偏振态后的实际测试值，而不单单是理论计算值，因此本发明还提升了测试结果的准确性。