[发明专利]一种磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法在审
| 申请号： | 202211632961.5 | 申请日： | 2022-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN115754853A | 公开（公告）日： | 2023-03-07 |
| 发明（设计）人： | 宁瑞鹏;李倩文;李哲宇 | 申请（专利权）人： | 华东师范大学 |
| 主分类号： | G01R33/24 | 分类号： | G01R33/24;G01R33/022;G01R33/12 |
| 代理公司： | 上海东亚专利商标代理有限公司 31208 | 代理人： | 董梅 |
| 地址： | 200062 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法，采用正负组合梯度作为测试梯度，结合磁场非均匀性对自旋回波和梯度回波作用的差异，测量由测试梯度引发的磁场均匀性的变化，再利用该变化导致的回波峰值的改变来量度剩磁的强度。该方法避免了在测试梯度为零的条件下进行基准测试，克服了磁滞效应对基准信号的不良影响，保证了测量过程中采集回波信号时的磁场分布状态是确定并且稳定的，消除了测试顺序对测试结果的影响，从而提高了剩磁测量结果的精度和稳定度。本发明方法简单易行，可量度剩磁的空间各向异性，可用于评估剩磁对成像空间定位的影响，特别适用于判断永磁磁共振成像系统是否满足介入治疗中监控和导航对空间定位的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁共振 成像 系统 剩磁 测量 过程 优化 方法 | ||
【主权项】：
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