[发明专利]一种可调整电磁抗扰的车规级芯片测试装置及测试系统在审

专利信息
申请号: 202211639575.9 申请日: 2022-12-20
公开(公告)号: CN116087646A 公开(公告)日: 2023-05-09
发明(设计)人: 李齐;雷黎丽;成刚;原诚寅 申请(专利权)人: 北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/28;G01R1/04;G01R1/30
代理公司: 北京一品慧诚知识产权代理有限公司 11762 代理人: 杨文
地址: 100176 北京市大兴区北京经济技术*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及芯片测试技术领域,公开了一种可调整电磁抗扰的车规级芯片测试装置及测试系统,包括车规芯片、子板、母板、连接器,车规芯片搭载在子板上;母板上集成有若干个电路模块;子板通过连接器与母板进行连接;母板通过多个连接器连接搭载不同型号车规级芯片的子板,母板通过跳线方式或拨码开关为子板进行供电,母板根据车规芯片的类型及应用选择一个或多个电路模块为车规级芯片进行电磁抗扰测试提供测试环境。通过将车规汽车电子零部件上的典型电路集成在电路板上形成母板,同时对电源防护电路模块及采集电路模块的电磁防护设计不同的、可调整的防护等级,并与电磁干扰模块配合使用,从而衍生更多种适合车规级芯片测试的电磁测试环境。
搜索关键词: 一种 可调整 电磁 车规级 芯片 测试 装置 系统
【主权项】:
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