[发明专利]一种可减少硅片表面颗粒沾污的硅精抛液在审
申请号: | 202211664678.0 | 申请日: | 2022-12-23 |
公开(公告)号: | CN115851138A | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
发明(设计)人: | 王晗笑;宋英英;张琳;张今玉;王建帅 | 申请(专利权)人: | 博力思(天津)电子科技有限公司 |
主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02 |
代理公司: | 天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙) 12210 | 代理人: | 付长杰 |
地址: | 300350 天津市*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明为一种可以减少硅片表面颗粒沾污的硅片精抛液,所述精抛液包含硅溶胶磨料、有机酸、碱性化合物、水溶性高分子、表面活性剂、去离子水,所述精抛液中碱性化合物为占精抛液总质量的0.05%的高纯氨水,利用有机酸调控精抛液pH为10.5。本发明中在特定含量的高纯氨水存在下,利用单元或多元的有机酸来调控达到终了pH值,可以在一定程度上抑制磨料颗粒的团聚,显著降低了硅片精抛后表面颗粒的沾污数量。 | ||
搜索关键词: | 一种 减少 硅片 表面 颗粒 沾污 硅精抛液 | ||
【主权项】:
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