[发明专利]一种测试模式的控制方法、装置、芯片、介质及模组设备在审
| 申请号： | 202211674396.9 | 申请日： | 2022-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN115938462A | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 肖雄斌;王湘南;葛维 | 申请（专利权）人： | 紫光展锐（重庆）科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/00;G06F21/64;G01R31/317 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 陈翠平 |
| 地址： | 400700 重庆市*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种测试模式的控制方法、装置、芯片、介质及模组设备。该方法包括：检测到电子设备上电后，读取电子设备的存储器中存储的控制信息，控制信息的值为第一值时，控制信息指示芯片没有安全测试需求，控制信息的值为第二值时，控制信息指示芯片具有安全测试需求，第一值和第二值不相同；若控制信息指示芯片没有安全测试需求，则保持芯片的测试模式为开启状态；若控制信息指示芯片具有安全测试需求，则进行测试合法性校验；若测试合法性校验通过，则保持芯片的测试模式为开启状态；若测试合法性校验不通过，则关闭芯片的测试模式。基于本申请的方法，可以防止芯片被黑客恶意切入测试模式，保证芯片内部存储器和寄存器中敏感信息的安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 模式 控制 方法 装置 芯片 介质 模组 设备 | ||
【主权项】：
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