[发明专利]一种用于高In组分InGaAs探测器的纺锤型缓冲层结构在审
申请号: | 202211707653.4 | 申请日: | 2022-12-29 |
公开(公告)号: | CN116417531A | 公开(公告)日: | 2023-07-11 |
发明(设计)人: | 潘旭;刘绍斌;柯尊贵;陈剑;代千;覃文治;谢骞 | 申请(专利权)人: | 西南技术物理研究所 |
主分类号: | H01L31/0304 | 分类号: | H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/101 |
代理公司: | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人: | 刘二格 |
地址: | 610041 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于高In组分InGaAs探测器的纺锤型缓冲层结构,包括在半导体衬底上外延In组分呈纺锤型递变的InGaAs外延层作为缓冲层。该缓冲层结构适用于半导体衬底上制备高In组分的InGaAs红外探测器,特别是波长大于1.7μm的InxGa1‑xAs(x0.53)探测器的制备,提高了制备高In组分InGaAs探测器在衬底选择上的自由度和结构选择上的多样性。由于纺锤型缓冲层呈现上下对称的结构,所以缓冲层中的应力状态可以更有效的阻止穿透位错等缺陷往缓冲层以上的器件有源区蔓延,有望提高吸收层的结晶质量,改善器件性能。纺锤型缓冲层思想对于其他较大失配材料体系的生长同样具有借鉴意义,具有很好的通用性,减小了失配材料生长对于衬底的束缚。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 in 组分 ingaas 探测器 纺锤 缓冲 结构 | ||
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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