[发明专利]一种芯片测试方法、测试平台和设备在审
| 申请号： | 202211738185.7 | 申请日： | 2022-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN116089281A | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 黄子超;刘禄仁;郑文明;巩书兰;杨琰旭;李小龙 | 申请（专利权）人： | 天翼云科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 任亚娟 |
| 地址： | 100093 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种芯片测试方法、测试平台和设备，所述方法包括：获取仿真验证模式，所述仿真验证模式包括：Virtio模块级验证和PCIe‑to‑Virtio子系统级验证；根据所述仿真验证模式编译相应的DUT代码与验证环境代码；利用测试用例进行仿真验证，Host侧Virtio驱动模拟根据所述测试用例设置的测试场景，调用相应的寄存器适配器，以基于相同的测试用例对不同的仿真验证模式进行验证。在本发明实施例中，实现待测设计DUT与验证环境例化对接自动适配，对Virtio模块级验证和PCIe‑to‑Virtio子系统级验证时，其测试用例能够全部复用，进而加速芯片验证收敛，缩短验证周期。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 平台 设备 | ||
【主权项】：
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