[发明专利]基于设备异常导致脏数据堆积的Wafer追溯方法在审
| 申请号： | 202211740280.0 | 申请日： | 2022-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN115964396A | 公开（公告）日： | 2023-04-14 |
| 发明（设计）人： | 洪光热;陈湘芳 | 申请（专利权）人： | 上海哥瑞利软件股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/2455 | 分类号： | G06F16/2455;G06F16/22;G06F16/242;G07C3/00;G06Q30/018;G06Q50/04 |
| 代理公司： | 上海申浩律师事务所 31280 | 代理人： | 田敏 |
| 地址： | 201199 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于设备异常导致脏数据堆积的Wafer追溯方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)配置存储消息缓存池，定义缓存池消息键，设置缓存数据存储类型为Set，并指定缓存池大小；(2)保存消息数据，Set集合存储数据用于查询，同时定义List集合用于确定集合的长度，和保证数据先进先出的原则。(3)配置关联缓存池消息，设置关联字段和查询条件。(4)通过通配查找的SSCAN命令，利用游标迭代器返回数据。本发明所有的操作都是配置化，可视化，灵活化的，可根据业务自定义，自助式完成数据流的串联；通过自发明的索引机制可实现大数据高效检索，数据实时处理业务流程无延时，数据追溯中准确无丢失。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 设备 异常 导致 数据 堆积 wafer 追溯 方法 | ||
【主权项】：
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