[实用新型]射频芯片老化测试讯号源系统有效
| 申请号： | 202220377997.2 | 申请日： | 2022-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN217213029U | 公开（公告）日： | 2022-08-16 |
| 发明（设计）人： | 黄盛亿 | 申请（专利权）人： | 中睿技术检测（如东）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人： | 卜另北 |
| 地址： | 226400 江苏省南通市如东县高*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了射频芯片老化测试讯号源系统，包括芯片、以及用于放置芯片的老化板，还包括频率源，所述频率源的输出端电连接有一个功率放大器Ⅰ，所述功率放大器Ⅰ的输出端电连接有一个功率分配器Ⅰ，所述功率分配器Ⅰ的输出端电连接有多个功率放大器Ⅱ，每个所述功率放大器Ⅱ的输出端均分别电连接有一个功率分配器Ⅱ，每个所述功率分配器Ⅱ的输出端均分别与多个芯片电连接。本实用新型使单一的射频讯号频率源变成可调变的多路讯号输出给芯片，极大地提升了芯片老化测试的精度，同时可适用于数百兆乃至数千兆的射频讯号的输出，适用范围大，应用广泛。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 芯片 老化 测试 讯号 系统 | ||
【主权项】：
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