[实用新型]一种量子芯片检测系统有效
| 申请号： | 202220453517.6 | 申请日： | 2022-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN217181137U | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 杨晖;金贤胜 | 申请（专利权）人： | 合肥本源量子计算科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01N21/95 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市合肥市高*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种量子芯片检测系统，所述量子芯片上形成有量子电路，所述检测系统包括第一探测组件，在检测过程中，与量子电路的输入端口形成电学连接；第二探测组件，在检测过程中，与量子电路的输出端口形成电学连接；第一观察组件，用于观察第一探测组件与所述输入端口是否接触以形成电学连接；第二观察组件，用于观察第二探测组件与所述输出端口是否接触以形成电学连接；分别与所述第一探测组件和所述第二探测组件电连接的检测元件，通过设置第一观察组件和第二观察组件，可以独立地对第一探测组件、第二探测组件进行观察，从而能够同时清晰地观察到第一探测组件、第二探测组件与量子电路的输入端口、输出端口的接触情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 量子 芯片 检测 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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