[实用新型]一种测试机IC不良品收集装置

摘要

本实用新型公开了IC芯片测试领域内的一种测试机IC不良品收集装置，包括水平设置的底座板，底座板上设置有两个左右对应的矩形支撑座，两个支撑座上侧分别设置有进料块和出料块，进料块和出料块左右对应设置，进料块、出料块的宽度均小于支撑座的宽度，承压板上开设有冲压槽，两个所述支撑座之间留有可容收集盒放入的放置槽，放置槽内对应放置有支撑在底座板上的收集盒，所述收集盒包括矩形盒底板，盒底板的四周均竖直设置有盒侧板，四块盒侧板围成收集不良品的区域，朝外一侧的盒侧板上固定连接有抓握头，所述盒底板的上表面设置有若干圈向上凸起的矩形防滑纹路。本实用新型实现快速拿取测试不良品，避免不良品IC收集不全。