[实用新型]一种新型的集成电路测试设备有效

专利信息
申请号: 202221396852.3 申请日: 2021-10-28
公开(公告)号: CN218767198U 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 彭增金 申请(专利权)人: 彭增金
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京万贝专利代理事务所(特殊普通合伙) 11520 代理人: 马红
地址: 518000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种新型的集成电路测试设备,所述集成电路测试设备的线路板上设有MCU,所述MCU的管脚经过过压、限流接口保护电路、目标板电源泄放电路及目标板电源供给电路经目标板接口连接到目标板,所述过压、限流接口保护电路具体包括:对于每一条目标板接口线,经过TVS_ESD二极管、串联限流电阻、ESD保护二极管、ESD保护二极管、串联限流电阻后,接到MCU601的管脚,ESD保护二极管朝向地线,ESD保护二极管朝向一个VCCT_F钳位电压的电压节点,电容器接在节点上用于提供ESD保护作用;限流电阻、ESD保护二极管、VCCT_F钳位电压结合起来,实现限流电阻_二极管钳位电平匹配结构。
搜索关键词: 一种 新型 集成电路 测试 设备
【主权项】:
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