[实用新型]一种多工位芯片测试机有效
| 申请号： | 202221832337.5 | 申请日： | 2022-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN218455769U | 公开（公告）日： | 2023-02-07 |
| 发明（设计）人： | 谈海林;赵承进;林依团;李鑫期;周欢;黄彩强 | 申请（专利权）人： | 珠海沛烨智能设备有限公司;讯喆微电子（合肥）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广东中衢知识产权代理事务所(普通合伙) 44755 | 代理人： | 郎坚 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市斗门区白蕉科*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种多工位芯片测试机，包括总基板，总基板安装有输送装置、上料装置和测试装置，测试装置包括测试底板和测试升降板，测试底板安装有自动转盘、测试滑轨、测试导柱和升降电机，自动装盘设有中心对称的若干个芯片载具，芯片载具设有测试孔，测试滑轨设置有滑块板，滑块板设有固定的上斜推座、测试横移螺母，升降电机设置有与测试横移螺母配合的测试横移丝杆，测试升降板的底部安装有测试升降导套和下斜推座，测试升降导套与测试导柱配合，下斜推座与上斜推座对称倾斜，测试升降板的顶部安装有中心对称并与芯片载具配合的测试器，测试器设置有测试针；述芯片测试机实现对多个芯片进行同时进行多项测试；本实用新型属于测试设备的技术领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多工位 芯片 测试 | ||
【主权项】：
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