[实用新型]半导体测试封装设备的NG打标机构有效
| 申请号： | 202222197376.9 | 申请日： | 2022-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN218112143U | 公开（公告）日： | 2022-12-23 |
| 发明（设计）人： | 张巍巍 | 申请（专利权）人： | 江苏格朗瑞科技有限公司 |
| 主分类号： | B41J3/407 | 分类号： | B41J3/407;B41J3/44;B41J2/47;B41J29/393 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州市苏州工业*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体测试封装设备的NG打标机构，为了便于将在测试转盘上进行测试或视觉检测后的NG产品根据不同NG原因进行分类回收，通过设置NG打标机构及时对测试或视觉检测时的NG产品进行激光打标以进行NG原因标记，从而便于后续通过NG排料系统的传感器根据标签上的NG原因进行感应及对应排料，相对于传统的根据NG原因设置不同NG产品专用通道及料筒的方式，采用本实用新型的方式可以通过后端传感器精确识别NG原因的并进行精确分类回收，进而提高回收效率。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 测试 封装 设备 ng 机构 | ||
【主权项】：
暂无信息
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