[实用新型]半导体结构有效

专利信息
申请号: 202222446645.0 申请日: 2022-09-15
公开(公告)号: CN219226281U 公开(公告)日: 2023-06-20
发明(设计)人: 赖彦锟;吴逸文;张国钦;蔡柏豪;李明机 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L23/482 分类号: H01L23/482;H01L23/31;H01L23/488
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 闫华
地址: 中国台*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开提出一种半导体结构。半导体裸片可以包括位于内连线级介电材料层内的金属内连线结构、位于最顶部内连线级介电材料层上的接合垫、位于最顶部内连线级介电材料层上的介电钝化层以及延伸穿过介电钝化层且位于接合垫上的金属凸块结构。每个金属凸块结构包括具轮廓的底面,此底面包括与接合垫的相应一者的顶面接触的最底面段、与穿过介电钝化层的相应开口的锥形侧壁接触的锥形表面段以及覆盖介电钝化层且具有从外周缘横向向内偏移一横向偏移距离的环形表面段,横向偏移距离为接合垫的相应下方一者的宽度的至少8%。
搜索关键词: 半导体 结构
【主权项】:
暂无信息
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