[实用新型]一种具有翻转功能的芯片测试机有效
申请号: | 202222493937.X | 申请日: | 2022-09-21 |
公开(公告)号: | CN218383168U | 公开(公告)日: | 2023-01-24 |
发明(设计)人: | 王春雷;李巍 | 申请(专利权)人: | 上海英晓实业有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201811 上海市嘉定区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种具有翻转功能的芯片测试机,包括壳体和支架,所述壳体顶部的左右两侧均焊接有支架;还包括:滑杆,伸入滑动在左侧的支架内,且滑杆的底部键连接有啮合轮,所述啮合轮的右侧伸入滚动杆的内部与第一齿轮的左侧相啮合,且啮合轮的右侧伸出支架的内部,并且所述滚动杆的左侧转动连接在左侧支架的内壁上;第一齿轮,右侧与圆盘的侧边相啮合,且所述圆盘右端的上下两侧通过滑轮贴合有夹持盘。该具有翻转功能的芯片测试机安装有第一齿轮,将滑杆向右进行移动,然后使得滑杆与第一齿轮相啮合,然后通过旋转滑杆,使得滑杆通过第一齿轮带动圆盘进行转动,然后使得芯片不仅能够翻转而且还能够进行旋转。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 翻转 功能 芯片 测试 | ||
【主权项】:
暂无信息
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