[实用新型]一种芯片测试座

摘要

本实用新型提供一种芯片测试座，涉及芯片测试领域，以解决由于芯片槽与芯片不匹，芯片在放置好后容易在芯片槽的内部移动，导致芯片的引脚与测试针之间不能接触的问题，包括测试底座，所述测试底座的顶部左侧设置有导向柱；所述导向柱的圆周外壁上设置有限位盘；所述测试底座的顶部右侧设置有控制栓；所述导向柱上设置有测试盖板；所述测试盖板的底部居中位置开设底槽，且底槽为圆形结构；所述底槽的内部设置有压板。本实用通过适应块接触新芯片的外壁，从能够自动对规格较小的芯片限位，使芯片的引脚对准探针，避免因外界原因导致规格较小的芯片在芯片搁置槽的内部出现移动，造成芯片引脚与探针不接触。