[实用新型]芯片测试辅助治具有效
申请号: | 202222623928.8 | 申请日: | 2022-09-30 |
公开(公告)号: | CN218788048U | 公开(公告)日: | 2023-04-04 |
发明(设计)人: | 骆军瑞;吴静;许赛杰;黄志成 | 申请(专利权)人: | 泉州市三安集成电路有限公司 |
主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02;G01R1/073 |
代理公司: | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人: | 连耀忠 |
地址: | 362000 福建省泉*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种芯片测试辅助治具,包括支架、操作组件、移动杆、固定板和接触组件,操作组件可转动支撑于支架上,并与移动杆铰接,移动杆与固定板连接,接触组件安装在固定板上,接触组件包括中间接触组件和外围接触组件,芯片放置于支架的预设位置上,操作组件可带动移动杆朝向预设位置方向移动,并带动中间接触组件与芯片的主体接触,同时外围接触组件与芯片的外引脚接触。接触组件能够在芯片上给予不同的力度效果,触点使用防静电的PI材质,有效减少静电带来的误差,降低返工的次数,测试方式便捷,有效提高测试准确度。 | ||
搜索关键词: | 芯片 测试 辅助 | ||
【主权项】:
暂无信息
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