[实用新型]一种恒流二极管阵列可靠性试验电路有效
| 申请号： | 202223332142.7 | 申请日： | 2022-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN219201822U | 公开（公告）日： | 2023-06-16 |
| 发明（设计）人： | 潘朋涛;王曾;马路遥;罗健明;邓丹;李珏;杨超平 | 申请（专利权）人： | 中国振华集团永光电子有限公司（国营第八七三厂） |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 贵阳中工知识产权代理事务所 52106 | 代理人： | 杨成刚 |
| 地址： | 550018 贵州省*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 一种恒流二极管阵列的可靠性试验电路，属于半导体器件可靠性试验领域。包括：电源模块、异常指示模块、恒流二极管阵列老炼模块、正常指示模块、保护电路模块；电源模块为异常指示模块、恒流二极管阵列老炼模块、正常指示模块、保护电路模块提供所需电源；异常指示模块、恒流二极管阵列老炼模块、正常指示模块按顺序串联两端分别接电源模块的两端，保护电路模块与异常指示模块、正常指示模块相配合。解决了现有恒流二极管阵列可靠性试验电路不能对恒流二极管阵列产品质量进行有效判定的问题。泛应用于不同电流值下的恒流二极管阵列的可靠性筛选试验评估。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 二极管 阵列 可靠性 试验 电路 | ||
【主权项】：
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