[实用新型]芯片测试治具有效
申请号: | 202223605190.9 | 申请日: | 2022-12-29 |
公开(公告)号: | CN219201841U | 公开(公告)日: | 2023-06-16 |
发明(设计)人: | 王泥铭;顾红伟;胡晓辉;薛玉妮 | 申请(专利权)人: | 深圳市时创意电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人: | 邢涛 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请公开了一种芯片测试治具,包括测试基板、垫高板和连接器,所述垫高板设置在所述主板朝向所述测试基板的一侧,所述连接器设置在所述测试基板与所述垫高板之间,所述芯片设置在所述测试基板远离所述连接器的一侧;其中,所述垫高板的高度高于所述主板上其它电子元件的高度;所述连接器包括第一连接件和第二连接件,所述第一连接件与所述第二连接件可拆卸连接,所述第一连接件通过所述测试基板与所述芯片连接;所述第二连接件通过所述垫高板与所述主板连接;本申请通过以上设计,兼容各种主板且减小信号影响,方便拆卸更换。 | ||
搜索关键词: | 芯片 测试 | ||
【主权项】:
暂无信息
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