[发明专利]单元对单元比较方法在审
| 申请号： | 202280005608.6 | 申请日： | 2022-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN115989531A | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 朴泰勋;郑俊喜;拉姆·塞加尔;埃胡德·加拜;埃拉·门德尔松;埃亚尔·沙穆尔 | 申请（专利权）人： | 纳科新 |
| 主分类号： | G06V10/75 | 分类号： | G06V10/75 |
| 代理公司： | 北京市集佳律师事务所 16095 | 代理人： | 苏琳琳 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的一实施例所涉及的单元对单元比较方法，用于检查周期性地排列有能够由二维向量表示的单位单元的被检物的缺陷，包括以下步骤：获得包括上述单位单元的阵列的上述被检物的图像；从上述图像生成与上述阵列内的多个单位单元的相同位置对应的像素的集合即块；决定上述块内的多个像素各自的灰阶；以及基于决定的上述多个像素各自的灰阶来判定上述块内的多个像素是否有缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 单元 比较 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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