[发明专利]安检中原子序数图像的处理方法在审
| 申请号： | 202310002544.0 | 申请日： | 2023-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN115984399A | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 李保磊;孙翠丽;魏增辉;牛素鋆;莫阳;徐圆飞;刘念 | 申请（专利权）人： | 北京航星机器制造有限公司 |
| 主分类号： | G06T11/00 | 分类号： | G06T11/00;G06T5/50;G06T5/00 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386 | 代理人： | 庞许倩 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种安检中原子序数图像的处理方法，属于辐射成像技术领域，解决了现有技术中算法复杂且数据处理耗时长的问题。通过采集高/低能投影图像，对该图像进行投影分解处理，获取分解系数；基于分解系数，经处理，获取有效原子序数图像；其中，投影分解处理指利用基效应模型或基材料模型，对高/低能投影图像进行投影分解；基于高/低能投影图像，经处理，得到断层图像；将断层图像和有效原子图像进行融合处理，得到更新后的有效原子序数图像。实现了以简洁的处理过程，提高原子序数图像质量，耗时短，节约计算资源。 | ||
| 搜索关键词： | 安检 原子序数 图像 处理 方法 | ||
【主权项】：
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