[发明专利]一种氢敏反射膜片、制备方法及氢气浓度检测装置有效
| 申请号： | 202310009839.0 | 申请日： | 2023-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN115901630B | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 宋涵;贺子青;王照辉;姚恩龙;刘繄;王博一 | 申请（专利权）人： | 武汉理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/31;G01J3/02;G02B5/08;B22F9/24;B22F1/054;B82Y30/00;B82Y40/00 |
| 代理公司： | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 | 代理人： | 黄君军 |
| 地址： | 430070 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种氢敏反射膜片、制备方法及氢气浓度检测装置，氢敏反射膜片包括反射基片、双锥纳米颗粒单层膜和保护涂层；双锥纳米颗粒单层膜附着于所述反射基片上，并被所述保护涂层包裹，双锥纳米颗粒单层膜包括若干个双锥纳米颗粒。本发明的有益效果是：双锥纳米颗粒单层膜由若干个双锥纳米颗粒组成，在吸收氢之后在单个双锥纳米颗粒内不足以产生氢脆现象，同时各个所述双锥纳米颗粒均包括核层及壳层，核层可以对壳层进行支撑，有效避免壳层在吸收氢气后的相变，延长使用寿命，同时提高薄膜的渗氢能力、机械性能和抗毒化能力，此外，双锥纳米颗粒可以实现通过测量吸收峰对应波长变化来检测氢气浓度，避免系统误差影响，提高检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 反射 膜片 制备 方法 氢气 浓度 检测 装置 | ||
【主权项】：
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