[发明专利]一种用于cell面内及边缘缺陷的检测方法及系统在审
申请号: | 202310043734.7 | 申请日: | 2023-01-29 |
公开(公告)号: | CN116152184A | 公开(公告)日: | 2023-05-23 |
发明(设计)人: | 李韦辰;张莲莲;陈晨;靳松;陈永超 | 申请(专利权)人: | 北京兆维智能装备有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G02F1/13;G06T7/13;G06V10/40;G06V10/25;G06V10/82;G06T7/60;G06V10/46;G06V10/764;G06V10/80;G06N3/0464;G06N3/08 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 孟仕杰 |
地址: | 100015 北京市朝阳*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于cell面内及边缘缺陷的检测方法及系统,包括以下步骤:获取针对液晶屏的第一图像;根据第一图像,确定第一图像上的边缘待检测区域;根据边缘待检测区域,对液晶屏的边缘进行检测,得到第一检测结果;获取针对显示屏的第二图像;根据第二图像,确定第二图像上的面板显示区域;根据面板显示区域,确定符合设定条件的特征点;根据符合设定条件的特征点,确定显示待检测区域;根据显示待检测区域,对液晶屏的cell面进行检测,得到第二检测结果。解决了传统的液晶屏检测方法通用性差的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 cell 边缘 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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