[发明专利]质量分析方法及质量分析装置在审
| 申请号： | 202310045932.7 | 申请日： | 2023-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN116544094A | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 前田一真 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | H01J49/00 | 分类号： | H01J49/00;H01J49/02 |
| 代理公司： | 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 | 代理人： | 杨楷;毛立群 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的质量分析装置即使在CE值个数不同的情况下也将累计质谱的图案的变化抑制得较小，具备包括碰撞池(17)和对产物离子进行质量分析的质量分离部(20～23)的测量部(1)，能够执行MS/MS分析，该质量分析装置具备：CES法条件决定部(321)，与包含CE值的范围及CE值的个数的条件对应来决定CES法中的多个CE值，以将个数为n+1(其中n为3以上的任意整数)时的n+1个CE值设为在该个数为n时的n个CE值加入与其不同的1个CE值而得的值的方式，决定n+1个CE值；分析控制部(30)，将CE依次变化为在CES法条件决定部中决定的n+1个CE值，并且控制测量部以执行各CE值下的MS/MS分析；数据处理部(33)，累计分别得到的不同CE值下的质谱来获取累计质谱。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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