[发明专利]一种寄存器的校验方法、装置及设备有效
| 申请号： | 202310079471.5 | 申请日： | 2023-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN115934449B | 公开（公告）日： | 2023-06-02 |
| 发明（设计）人： | 王德平;赵慧超;冯朝生;郑红丽;关忠旭;王斯博;王浩宇;杨慧凯;李林男;包呼日查;徐珊珊;龚娜娜 | 申请（专利权）人： | 合肥智芯半导体有限公司;中国第一汽车股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京力量专利代理事务所(特殊普通合伙) 11504 | 代理人： | 郭大为 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供一种寄存器的校验方法、装置及设备，涉及汽车技术领域。所述方法，包括：获取当前需要校验的外部寄存器的配置数据；对所述配置数据进行循环移位校验处理，得到外部寄存器的实时校验值；将所述实时校验值与存储模块存储的初始校验值进行比对，获得比对结果；根据所述比对结果向中央处理器发送中断信号。本发明的方案实现了对外设寄存器的实时监测和快速校验。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 寄存器 校验 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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