[发明专利]一种测试电路在审
| 申请号： | 202310083328.3 | 申请日： | 2023-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN116008621A | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 傅荣颢 | 申请（专利权）人： | 瑶芯微电子科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/36 | 分类号： | G01R1/36;G01R1/20;G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 林丽丽 |
| 地址： | 201207 上海市浦东新区中国（上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试电路，包括：待测单元、第一电容、第二电容、电子保险丝及开合控制单元；待测单元的第一端连接第一电容的上极板，第二端连接第一电容的下极板和第二电容的下极板；电子保险丝连接于第一电容的上极板和第二电容的上极板之间，并受控于开合控制信号；开合控制单元用于对电子保险丝进行电信号采样得到采样信号，并根据采样信号和基准信号的比较结果产生开合控制信号，以在待测单元正常工作时控制电子保险丝闭合，在待测单元异常工作时控制电子保险丝打开；其中，第一电容的容值小于第二电容的容值。通过本发明提供的测试电路，解决了现有高压测试中因器件失效时常发生炸管的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 电路 | ||
【主权项】：
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