[发明专利]天基多平台探测系统效能评估方法、存储介质及电子设备在审

专利信息
申请号: 202310113064.1 申请日: 2023-02-15
公开(公告)号: CN115826914A 公开(公告)日: 2023-03-21
发明(设计)人: 付强;刘楠;刘轩玮;赵凤;李英超;姜会林 申请(专利权)人: 长春理工大学
主分类号: G06F7/548 分类号: G06F7/548;G06N7/02;G01D18/00
代理公司: 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 代理人: 付宏璇
地址: 130012 *** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 天基多平台探测系统效能评估方法、存储介质及电子设备,涉及天基探测技术领域,可有效对天基平台探测系统进行效能评估,进而优化该系统的顶层设计。所述方法包括:建立递阶层次结构模型:确定目标效能指标,依据各个效能指标间的隶属关系确定指标的层次结构图,将天基多平台探测系统所涉及的影响因素分成不同层次;建立判断矩阵并对其进行一致性检验,所述一致性检验用于对判断矩阵确定不一致的允许范围;基于行和正规化方法计算同一层次中第i个指标相对应的上层指标的权重vi向量;将天基多平台探测系统各层指标带入三角模糊数的隶属度模型,通过模糊归一化处理得到第i个评价指标关于总目标的权重Wi;计算每个指标对系统效能的贡献值。
搜索关键词: 基多 平台 探测 系统 效能 评估 方法 存储 介质 电子设备
【主权项】:
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