[发明专利]一种基于标准接口定义的微模组测试装置及方法在审
申请号: | 202310122293.X | 申请日: | 2023-02-15 |
公开(公告)号: | CN116346129A | 公开(公告)日: | 2023-06-27 |
发明(设计)人: | 张芮;成章;迭东;严新文;邓鹏;祝威;白正杨 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 黎飞 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明涉及微系统技术领域,公开了一种基于标准接口定义的微模组测试装置及方法,该装置,包括依次电连接的信号发生单元、ADC调理电路、第一ADC测试装置、FPGA芯片、第一DAC测试装置、DAC调理电路,还包括上位机、第二ADC测试装置、第二DAC测试装置,上位机与FPGA芯片电连接,第二ADC测试装置分别与ADC调理电路、第一ADC测试装置、FPGA芯片电连接,第二DAC测试装置分别与FPGA芯片、第一DAC测试装置、DAC调理电路电连接。本发明解决了现有技术存在的测试成本较高、缺乏通用性等问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 标准 接口 定义 模组 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
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