[发明专利]一种芯片及其制造方法、封装结构有效
申请号: | 202310134644.9 | 申请日: | 2023-02-20 |
公开(公告)号: | CN115870641B | 公开(公告)日: | 2023-05-23 |
发明(设计)人: | 张越;刘天建;田应超 | 申请(专利权)人: | 湖北三维半导体集成创新中心有限责任公司 |
主分类号: | B23K26/38 | 分类号: | B23K26/38;B23K26/402;B23K26/70;H01L21/78;H01L21/304;H01L23/31 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 张李静;王黎延 |
地址: | 430000 湖北省武汉市武汉东湖新技*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本公开提供了一种芯片及其制造方法、封装结构,所述方法包括:提供晶圆;所述晶圆包括形成于衬底上的主芯片区域和切割道区域;所述切割道区域包括第一区域和第二区域;所述第二区域位于所述主芯片区域与所述第一区域之间;所述第一区域包括金属结构,所述第二区域不包括所述金属结构;对所述第一区域执行划片切割,以将所述晶圆切割为若干个芯片;对所述第二区域执行第一倒角切割,以在所述若干个芯片的边角区域形成暴露所述衬底的倒角;对所述衬底执行第二倒角切割,以去除暴露的所述衬底,得到倒角后的芯片。本公开的芯片制造方法对不包括金属结构的区域进行倒角切割,避免在切割过程中产生熔渣,提高倒角后芯片的洁净度。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 及其 制造 方法 封装 结构 | ||
【主权项】:
暂无信息
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