[发明专利]一种用于半导体镀膜工艺腔室的清洁方法在审

专利信息
申请号: 202310139680.4 申请日: 2023-02-21
公开(公告)号: CN116145106A 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: 张玉慧;张登巍;张金胜;王智浩;冯丽彬;李鑫 申请(专利权)人: 苏州鼎芯光电科技有限公司
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44
代理公司: 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 代理人: 殷海霞
地址: 215000 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种用于半导体镀膜工艺腔室的清洁方法,所述清洁方法包括以下步骤:(1)向工艺腔室内通入氩气,并开启射频功率源向工艺腔室内施加射频能量,将氩气激发成等离子体;(2)在持续施加射频能量下,向工艺腔室内通入反应气体,与腔室内镀膜残留的副产物反应;所述反应气体包含八氟环丁烷、一氧化二氮和氮气;(3)待反应结束后,向工艺腔室内通入氮气,去除腔室内残留的污垢。本发明通过向工艺腔室内先通入氩气引燃等离子体,为反应气体预先形成等离子体环境以促进反应气体与副产物的反应,同时在反应气体中引入氮气,使反应气体在腔体内快速均匀分散,从而有效缩短清洗时间,减少特气的损失,且有效降低了尾气回收成本。
搜索关键词: 一种 用于 半导体 镀膜 工艺 清洁 方法
【主权项】:
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