[发明专利]一种用于半导体镀膜工艺腔室的清洁方法在审
申请号: | 202310139680.4 | 申请日: | 2023-02-21 |
公开(公告)号: | CN116145106A | 公开(公告)日: | 2023-05-23 |
发明(设计)人: | 张玉慧;张登巍;张金胜;王智浩;冯丽彬;李鑫 | 申请(专利权)人: | 苏州鼎芯光电科技有限公司 |
主分类号: | C23C16/44 | 分类号: | C23C16/44 |
代理公司: | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 | 代理人: | 殷海霞 |
地址: | 215000 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于半导体镀膜工艺腔室的清洁方法,所述清洁方法包括以下步骤:(1)向工艺腔室内通入氩气,并开启射频功率源向工艺腔室内施加射频能量,将氩气激发成等离子体;(2)在持续施加射频能量下,向工艺腔室内通入反应气体,与腔室内镀膜残留的副产物反应;所述反应气体包含八氟环丁烷、一氧化二氮和氮气;(3)待反应结束后,向工艺腔室内通入氮气,去除腔室内残留的污垢。本发明通过向工艺腔室内先通入氩气引燃等离子体,为反应气体预先形成等离子体环境以促进反应气体与副产物的反应,同时在反应气体中引入氮气,使反应气体在腔体内快速均匀分散,从而有效缩短清洗时间,减少特气的损失,且有效降低了尾气回收成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 半导体 镀膜 工艺 清洁 方法 | ||
【主权项】:
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
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