[发明专利]CZT偏压测试系统及其测试方法、控制装置和存储介质在审
| 申请号： | 202310217052.3 | 申请日： | 2023-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN116068608A | 公开（公告）日： | 2023-05-05 |
| 发明（设计）人： | 辛元娟;郝树财;韦浩;张保强;王欢;李建;介万奇;席守智 | 申请（专利权）人： | 陕西迪泰克新材料有限公司 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 沈军 |
| 地址： | 712000 陕西省西安市西咸新*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及探测器技术领域，本发明提供一种CZT偏压测试系统及其测试方法、控制装置，存储介质，CZT偏压测试系统的测试方法包括以下步骤：控制高压生成电路向测试CZT晶体上施加多个第一电压；获取信号采集电路识别的每一第一电压对应的第一信号计数率；根据多个第一信号计数率之间的第一变化率，获取测试CZT晶体的最佳偏压。在本发明提供的测试方法中，通过高压生成电路向测试CZT晶体上施加高压电压，然后通过信号采集电路，对测试CZT晶体产生的电子进行收集，得到在此高压下的CZT晶体的信号计数率，获取不同高压状态下的信号计数率，根据信号计数率之间的变化率的大小，判断测试CZT晶体最佳偏压。 | ||
| 搜索关键词： | czt 偏压 测试 系统 及其 方法 控制 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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