[发明专利]一种监测点放样及测量方法在审

专利信息
申请号: 202310222428.X 申请日: 2023-03-09
公开(公告)号: CN116105703A 公开(公告)日: 2023-05-12
发明(设计)人: 杨东仁;苏秀婷;王学哲;赵婕;李耀;孙斌;姚瑶;郭钰婷;王凤娟 申请(专利权)人: 上海勘察设计研究院(集团)有限公司
主分类号: G01C15/02 分类号: G01C15/02;G01C5/00;G01C9/24;G01C11/00;G01B11/02;G01B21/22;G01R33/02
代理公司: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 代理人: 耿悦
地址: 200093*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种监测点放样及测量方法,包括以下步骤:S1、建立DEM,并在所述DEM上标定监测点位置;S2、测量沉降类监测点数据并标定在DEM上,作为沉降类监测点的监测布点图;S3、测量水平位移类监测点数据并标定在DEM上,作为水平位移类监测点的监测布点图;S4、采用监测点放样及测量辅助装置对沉降类监测点和水平位移类监测点进行放样;S5、按照沉降类监测点和水平位移类监测点的放样位置进行监测点布设,监测点布设完成后,进行监测点初始值采集;S6、使用监测点放样及测量辅助装置按照规定监测频率进行监测。本发明有效地降低监测难度、提高监测精度、显著地减少误差和简化计算过程。
搜索关键词: 一种 监测 点放样 测量方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海勘察设计研究院(集团)有限公司,未经上海勘察设计研究院(集团)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310222428.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top