[发明专利]一种监测点放样及测量方法在审
申请号: | 202310222428.X | 申请日: | 2023-03-09 |
公开(公告)号: | CN116105703A | 公开(公告)日: | 2023-05-12 |
发明(设计)人: | 杨东仁;苏秀婷;王学哲;赵婕;李耀;孙斌;姚瑶;郭钰婷;王凤娟 | 申请(专利权)人: | 上海勘察设计研究院(集团)有限公司 |
主分类号: | G01C15/02 | 分类号: | G01C15/02;G01C5/00;G01C9/24;G01C11/00;G01B11/02;G01B21/22;G01R33/02 |
代理公司: | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人: | 耿悦 |
地址: | 200093*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种监测点放样及测量方法,包括以下步骤:S1、建立DEM,并在所述DEM上标定监测点位置;S2、测量沉降类监测点数据并标定在DEM上,作为沉降类监测点的监测布点图;S3、测量水平位移类监测点数据并标定在DEM上,作为水平位移类监测点的监测布点图;S4、采用监测点放样及测量辅助装置对沉降类监测点和水平位移类监测点进行放样;S5、按照沉降类监测点和水平位移类监测点的放样位置进行监测点布设,监测点布设完成后,进行监测点初始值采集;S6、使用监测点放样及测量辅助装置按照规定监测频率进行监测。本发明有效地降低监测难度、提高监测精度、显著地减少误差和简化计算过程。 | ||
搜索关键词: | 一种 监测 点放样 测量方法 | ||
【主权项】:
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