[发明专利]基于滤芯过滤和MALDI-TOF MS检测样品中关注化合物的方法在审
| 申请号： | 202310229800.X | 申请日： | 2023-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN116465956A | 公开（公告）日： | 2023-07-21 |
| 发明（设计）人： | 顾好粮;马龙华;张丹丹;高利艳;李晓雯;李晓鸥 | 申请（专利权）人： | 东西分析仪器（天津）有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64;G01N1/40;G01N1/34 |
| 代理公司： | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人： | 邹媛媛 |
| 地址： | 300300 天津市东丽区东*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本申请公开了基于滤芯过滤和MALDI‑TOF MS检测样品中关注化合物的方法，包括如下步骤：S1、选取具有过滤功能的靶板；S2、将样本与具有吸附基团的介质颗粒混合均匀，形成悬浊液，混合过程中介质颗粒上的吸附基团与样本中关注的化合物结合；S3、将悬浊液转至具有过滤功能的靶板上进行过滤，使得介质颗粒以及与介质颗粒结合的关注化合物被截留在具有过滤功能的靶板上；S4、将基质覆盖在介质颗粒以及与介质颗粒结合的关注化合物上；S5、将覆盖有基质的具有过滤功能的靶板放至MALDI‑TOF MS系统中进行检测。本申请采用介质颗粒吸附样本中的关注化合物，并结合具有过滤功能的靶板截留介质颗粒和关注化合物，从而可实现对关注化合物进行高灵敏度的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 过滤 maldi tof ms 检测 样品 关注 化合物 方法 | ||
【主权项】：
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