[发明专利]一种芯片大数据量失败地址存储的方法在审
| 申请号： | 202310232559.6 | 申请日： | 2023-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN116414312A | 公开（公告）日： | 2023-07-11 |
| 发明（设计）人： | 李洋;曾海燕 | 申请（专利权）人： | 上海御渡半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06;G06F17/16;H03M7/30 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 吴世华;陶金龙 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种芯片大数据量失败地址存储方法，包括检测得到所述待测芯片所有故障点的分布图，并存入失效地址存储器AFM；如果失效地址存储器AFM中的故障点超过预定的阈值，分割大的失效地址存储器AFM为N个子失效地址存储器AFM，并修改整个失效地址存储器AFM文件存储格式；依次提取并判断每一个子失效地址存储器AFM是否具有故障点，如果有，对子失效地址存储器AFM的数据进行压缩和传输，否则不对子失效地址存储器AFM的数据进行压缩和传输，并接收N个子失效地址存储器AFM传输所得到压缩数据进行解析和还原排序，并在还原时，将没有故障点的子失效地址存储器AFM的数据插入到失效地址存储器AFM还原序列中，整体还原完成失效地址存储器AFM。因此，本发明可以节省传输流量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 数据量 失败 地址 存储 方法 | ||
【主权项】：
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