[发明专利]一种基于特征感知的元器件表面缺陷检测方法在审
| 申请号： | 202310235760.X | 申请日： | 2023-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN116596838A | 公开（公告）日： | 2023-08-15 |
| 发明（设计）人： | 高红霞;曲连伟;陈山娇;李冠基;杨伟朋 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/77;G06V10/44;G06V10/25;G06V10/26;G06V10/80;G06V10/764;G06V10/766;G06N3/045;G06N3/0464 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 冯炳辉 |
| 地址： | 510640 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于特征感知的元器件表面缺陷检测方法，包括：1)采集待检测的元器件的RGB图像；2)将RGB图像通过缺陷空间映射网络，得到缺陷空间映射图；3)得到RGB图像的关键点坐标；将缺陷空间映射图分别输入区域建议网络和主干网络，获得ROI区域和感兴趣区域ROIs；将缺陷空间映射图进行超像素快速分割，得到多背景区域；4)通过ROIs找到其相交背景区域，进行区域特征融合；5)将ROIs与关键点坐标进行比对，得到双近邻ROI区域特征，比对双近邻ROI区域特征，将比对结果向量作为ROIs的特征向量；6)将特征向量送入全连接层，进行分类与边框回归，识别出检测对象的类别和位置并标注。本发明实现了对工业检测场景下元器件表面弱缺陷的高精度检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 特征 感知 元器件 表面 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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