[发明专利]基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法及系统在审
| 申请号： | 202310242967.X | 申请日： | 2023-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN116465501A | 公开（公告）日： | 2023-07-21 |
| 发明（设计）人： | 刘加庆;刘彦良;刘志明;尹炳琪;杜特;刘磊;李志增;吴威;张冰;哈成阳;徐靖博 | 申请（专利权）人： | 中电科思仪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/53 | 分类号： | G01J5/53 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 于凤洋 |
| 地址： | 266555 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法及系统，涉及红外光谱技术领域，包括获取低温黑体的均值干涉数据以及获取高温黑体的均值干涉数据；分别对获取的低温黑体均值干涉数据、高温黑体的均值干涉数据进行光谱反演，得到对应的低温黑体复数光谱、高温黑体复数光谱；基于低温黑体复数光谱、高温黑体复数光谱，采用复数辐射定标方法，计算复数辐射定标系数；利用复数辐射定标系数，进行复数辐射定标，获取定标光谱辐射亮度，取定标光谱辐射亮度的虚部残值，作为仪器的NESR值。能够更好的消除不同温度目标场景间以及仪器自身辐射等引入的相位偏差提升傅里叶变换红外光谱辐射计的测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 定标 红外 光谱 辐射计 nesr 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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