[发明专利]一种微小单晶体晶胞参数测量仪在审
| 申请号： | 202310249821.8 | 申请日： | 2023-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN116500065A | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 侯燕 | 申请（专利权）人： | 苏州亿凡星仪器科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N23/20008;G01N23/20025;G01N21/84 |
| 代理公司： | 北京东方汇众知识产权代理事务所(普通合伙) 11296 | 代理人： | 王庆彬 |
| 地址： | 215300 江苏省苏州市昆*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提出一种微小单晶体晶胞参数测量仪及操作方法，所述测量仪包括：测量仪主板、X射线光管的固定装置、能够调节X射线输出尺寸的X射线准直器、样品视频显微镜、样品台和X射线探测器；X射线管和X射线准直器通过固定装置固定在测量仪主板上，X射线管发出的X射线经过X射线准直器调节输出尺寸后，照射到样品台上的微小单晶体样品，然后被晶体样品反射到X射线探测器；样品台和X射线探测器也安装测量仪主板上；采用本发明的方法，使得微小单晶体在系统视频显微镜的协助下，安装和调整变得非常简单。晶胞参数测量的精度和重复性大大提高。智能化的软件设计简化了测量流程，让使用者能够一键操作完成晶胞参数的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微小 单晶体 晶胞 参数 测量仪 | ||
【主权项】：
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