[发明专利]一种近红外光谱分析仪质量监测分析系统及方法在审

专利信息
申请号: 202310287922.4 申请日: 2023-03-23
公开(公告)号: CN115993344A 公开(公告)日: 2023-04-21
发明(设计)人: 王小天;韩春 申请(专利权)人: 苏州斌智科技有限公司
主分类号: G01N21/359 分类号: G01N21/359;G06N3/0464;G06N3/084;G06N3/09
代理公司: 无锡苏元专利代理事务所(普通合伙) 32471 代理人: 王清伟
地址: 215100 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种近红外光谱分析仪质量监测分析系统及方法,涉及数据处理技术领域,该方法包括:获取用于质量检测的检测物质,利用目标分析仪对检测物质进行M次近红外光谱扫描检测,获得M个检测结果;计算检测含量与实际含量之间的误差,获得M个误差参数集合;加权计算获得M个总误差参数并计算获得M个总误差参数的重复性误差标准差;利用质量监测模型中的检测准确性分析单元和图谱重复性分析单元分别进行准确性和重复性分析,将图谱重复性分析结果和综合检测准确性分析结果作为目标分析仪的质量检测结果。本发明解决了现有技术中存在分析仪质量监测分析智能化程度低,分析准确度不高的技术问题,达到了提高质量监测准确性的技术效果。
搜索关键词: 一种 红外 光谱分析 质量 监测 分析 系统 方法
【主权项】:
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